[M] Secondary ion mass spectrometry : SIMS II : proceedings of the second international conference, Stanford Univ.,Stanford, California, August 27-31, 1979 Berlin

editors: A.Benninghoven...[et al.]
著者: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry Benninghoven, A. 出版者: Springer-Verlag (出版日: 1979)

資料: Secondary ion mass spectrometry : SIMS II : proceedings of the second international conference, Stanford Univ.,Stanford, California, August 27-31, 1979

本棚: 単行書14 (並木)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架（利用可能）

請求記号: 543.5|B|T-475

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所蔵情報ID: 215763

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受入日: 1981年02月14日

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作成時刻: 2010/12/15 23:49:54

更新時刻: 2025/12/15 09:36:28