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[M] Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS Ⅱ : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS Ⅱ), Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979 Vol.9 9 冊子体

著者: 出版者: Springer Verlag (出版日: 1979)

版:
巻号: 巻: 9
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 295p; 24cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9783540098430
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215763 千現 単行書7 画像 543.5|B|T-475 在架(利用可能)