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Secondary ion mass spectrometry : SIMS II : proceedings of the second international conference, Stanford Univ.,Stanford, California, August 27-31, 1979 Berlin 
editors: A.Benninghoven...[et al.]
著者: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry Benninghoven, A. 出版者: Springer-Verlag (出版日: 1979)
| 代替タイトル: | Proceedings of the International Conference(2nd, 1979) |
| 雑誌・シリーズ情報: |
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| 版: | |
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| 巻号: | 巻: Berlin |
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | xiii, 295 p. ; 24 cm |
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| タグ: |
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| 識別子: |
ISBN: 9783540098430
NCID: BA00565104
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| 注記: |
Includes bibliographies and index |
