[M] Applications of X-ray topographic methods to materials science

edited by Sigmund Weissmann, Françoise Balibar, and Jean-François Petroff
著者: France-U.S.A. Seminar on Application of X-Ray Topographic Methods to Materials Science Weissmann, Sigmund Balibar, Françoise Petroff, Jean-François Centre national de la recherche scientifique National Science Foundation (U.S.) 協力者・編者: edited by Sigmund Weissmann, Francoise Balibar, and Jean-Francois Petroff 出版者: Plenum Press (出版日: 1984)

資料: Applications of X-ray topographic methods to materials science

本棚: 単行書18 (並木)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架（利用可能）

請求記号: 548.73|W|T-985

原簿番号:

所蔵情報ID: 215670

付録を含む: いいえ

閲覧に必要な権限: Guest

受入日: 1988年04月01日

業務用メモ:

受入時刻:

作成時刻: 2010/12/15 23:53:39

更新時刻: 2025/12/15 09:40:16