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Ultrathin SiO[2] and high-K materials for USLI gate dielectrics : symposium held April 5-8, 1999, in San Francisco, California, U.S.A.
editors, H.R. Huff ... [et al.]
著者: Huff, Howard R. 出版者: Materials Research Society (出版日: 1999)
貸出区分: 標準
貸出状態: 在架(利用可能)
請求記号: MRS|P|567
原簿番号:
所蔵情報ID: 218361
付録を含む: いいえ
閲覧に必要な権限: Guest
受入日: 2000年06月02日
業務用メモ:
受入時刻:
作成時刻: 2010/12/15 23:55:22
更新時刻: 2025/12/03 16:34:35