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Journal of Crystal Growth Vol.210 : Nos.1-3 Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors 1999 : Proceedings of Eighth International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Narita, Japan September 15-18, 1999 : with Master Index v.201-210 Vol.210 :with Master Index v.201-210
著者: Nos.1-3, editor, T. Ogawa, M. Tajima 出版者: North-Holland
(出版日: 2000)
貸出区分: 標準
貸出状態: 除籍済み
請求記号: |J|25159
原簿番号:
所蔵情報ID: 129341
付録を含む: いいえ
閲覧に必要な権限: Guest
受入日: 2001年10月30日
業務用メモ:
受入時刻:
作成時刻: 2010/12/16 01:29:26
更新時刻: 2025/05/12 10:01:18