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[M] Development of UHV scanning probe microscope with external stress and strain application
(出版日: 2007)
https://hdl.handle.net/20.500.11932/39058
コレクション: | NIMS成果物 |
形態: | オンラインリソース |
言語: | English |
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識別子: | Handle URI: https://hdl.handle.net/20.500.11932/39058 |
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