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Development of UHV scanning probe microscope with external stress and strain application
(出版日: 2007)
https://hdl.handle.net/20.500.11932/39058
| コレクション: | NIMS成果物 |
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| 言語: | English |
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| 識別子: | Handle URI: https://hdl.handle.net/20.500.11932/39058 |
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