[M] Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Patrick Echlin
出版者: Springer US (出版日: 2009)
https://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-0-387-85731-2

• 書誌詳細

形態:	オンラインリソース
言語:	English
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識別子:	ISBN: 9780387857312 DOI: 10.1007/978-0-387-85731-2
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