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High resolution X-ray diffractometry and topography 
D. Keith Bowen and Brian K. Tanner
著者: Bowen, D. Keith (David Keith) Tanner, B. K. (Brian Keith) 出版者: Taylor & Francis (出版日: 1998)
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | x, 252 p. ; 26 cm |
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| 識別子: |
NCID: BA39292928
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| アブストラクト: | |
| 注記: |
Includes bibliographical references and index |
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