[M] 最新固体表面/微小領域の解析・評価技術

著者: 氏平 祐輔 協力者・編者: 氏平 祐輔 出版者: リアライズ社 (出版日: 1991)

• 書誌詳細

形態:	冊子体
言語:	日本語
ページ数と大きさ:	410p; 27cm
件名:
分類:
識別子:	ISBN: 9784947655424
アブストラクト:
注記:

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
210670	千現	単行書4	538.971|Ｓ|T-1428	在架（利用可能）

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