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Materials reliability in microelectronics VII : symposium held April 8-12, 1997, San Francisco, California, U.S.A. 
editors, J. Joseph Clement ... [et al.]
著者: Clement, J. Joseph 出版者: Materials Research Society (出版日: 1997)
| 雑誌・シリーズ情報: |
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | xv, 457 p. ; 24 cm |
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| 識別子: |
ISBN: 9781558993778
NCID: BA34715569
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Includes index |
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