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[M] Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors : Proceedings of The 5th International Workshop (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August・September 1998 Vols.63-64 Vols.63-64 冊子体

著者: 出版者: Scitec Publications Ltd (出版日: 1998)

版:
巻号: 巻: Vols.63-64
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 537p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9783908450399 ISSN: 10120394
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217984 千現 単行書9 画像 548.526|D|10776 在架(利用可能)