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Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics : Symposium held April 23-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A. ; MRS Vol.612 Vol.612 Vol.612 
著者: editors； G.S. Oehrlein, K. Maex, Y.-C. Joo [et al.] 出版者: Materials Research Society (MRS) (出版日: 2001)
| 版: | 2nd Completely Revised and Updated Edition |
|---|---|
| 巻号: | 巻: Vol.612 |
| 形態: |
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | |
| 件名: | |
| 分類: | |
| 識別子: | ISBN: 9781558995208 ISSN: 02729172 |
| アブストラクト: | |
| 注記: |
| 所蔵情報ID | 図書館 | 本棚 | 請求記号 | 貸出状態 |
|---|---|---|---|---|
| 218944 | 千現 |
プロシーディングス26 
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MRS|P|11515 | 在架（利用可能） |