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[M] Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST 2001 : Proceedings of the 9th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001 Vols. 82-84 Vols.82-84 冊子体

著者: 出版者: Scitec Publications Ltd (出版日: 2002)

版:
巻号: 巻: Vols.82-84
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 823p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9783908450641 ISSN: 10120394
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219032 千現 単行書9 画像 548.526|D|11571 在架(利用可能)