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[M] Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by Om Johari 出版者: IIT Research Institute (出版日: 1976)

雑誌・シリーズ情報:
  • Scanning electron microscopy
(ISSN: 05865581)
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 782p; 29cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780915802098 ISSN: 05865581
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205652 千現 単行書11 画像 621.385.|J|5851 在架(利用可能)