資料の表示
[M]
High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers 
Václav Holý, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach
著者: Holy, Vaclav Pietsch, Ulrich Baumbach, Tilo 出版者: Springer (出版日: 1999)
| 雑誌・シリーズ情報: |
|
| 形態: |
冊子体
|
| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | xi, 256 p. ; 24 cm |
| 件名: | |
| 分類: | |
| タグ: |
|
| 識別子: |
ISBN: 9783540620297
NCID: BA39430045
|
| アブストラクト: | |
| 注記: |
Includes bibliographical references and index |
|---|
