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[M] Defects in Semiconductors 18 : Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Vols.196-201 Part 1 冊子体

著者: edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 協力者・編者: edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 出版者: Trans Tech Publications

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 1p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780878497126 ISSN: 02555476
アブストラクト:

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所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
124215 千現 集密書庫 画像 |M|ｷ 926 在架（利用可能）
貸出不可
千現
集密書庫
在架（利用可能）
 
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ｷ 926