資料の表示

次へ 前へ 一覧に戻る : 詳細検索

[M] Defects in Semiconductors ICDS-19 Part 2: Proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 Part 2 冊子体

著者: 出版者: Trans Tech Publications

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 677p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780878497881
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211068 千現 単行書11 画像 621.315.592|D|キ 1586 在架(利用可能)