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[M] Defects in Semiconductors ICDS-19 Part 2: Proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 Part 2 冊子体


著者: 出版者: Trans Tech Publications

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 677p; 25cm
件名:
分類:
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識別子: ISBN: 9780878497881
アブストラクト:

注記:

Vols. 258-263 of Materials Science Forum:ISSN 0255-5476

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211068 千現 単行書11 画像 621.315.592|D|キ 1586 在架(利用可能)