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1	Semiconductor material and device characterization Schroder, Dieter K. IEEE Press, Wiley-Interscience (2006) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602719 千現 単行書11 621.315.592|S| 在架（利用可能）
2	Proceedings of the Yamada Conference LIV The 9th International Conference on Shallow- Level Centers in Semiconductors: SLCS-9 held in Awaji Island, Hyogo, Japan 24-27 September 2000 SLCS-9 guest editors, M. Suezawa, H. Nakata and H. Katayama-Yoshida Elsevier Science (2001) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211080 千現 単行書11 621.315.592|S|ｷ 1598 在架（利用可能）
3	Defects in Semiconductors ICDS-19 Part 3: Proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 Part 3 editors, Gordon Davies and Maria Helena Nazare Trans Tech Publications UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211069 千現 単行書11 621.315.592|D|ｷ 1587 在架（利用可能）
4	Defects in Semiconductors ICDS-19 Part 2: Proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 Part 2 editors, Gordon Davies and Maria Helena Nazare Trans Tech Publications UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211068 千現 単行書11 621.315.592|D|ｷ 1586 在架（利用可能）
5	Defects in Semiconductors ICDS-19 Part 1: Proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 Part 1 editors, Gordon Davies and Maria Helena Nazare Trans Tech Publications UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211067 千現 単行書11 621.315.592|D|ｷ 1585 在架（利用可能）
6	23rd International Conference on the Physics of Semiconductors Abstracts; ⅩⅩⅢICPS 1996 Berlin, Germany, Technische Univesitat Berlin July 21-26, 1996 UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219279 千現 単行書11 621.315.||ｷ1193 在架（利用可能）
7	Proceedings of the 18th International Conference Defects in Semiconductors Part 4; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 4 18 edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219286 千現 単行書11 621.315.|D|ｷ1200 在架（利用可能）
8	Proceedings of the 18th International conference Defects in Semiconductors Part 3; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 3 18 edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219285 千現 単行書11 621.315.|D|ｷ1199 在架（利用可能）
9	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors Part 1; ICDS-18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part1 18 edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219283 千現 単行書11 621.315.|D|ｷ1197 在架（利用可能）
10	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors Part 2; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 2 18 edited by;Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida edited by;Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trance Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219284 千現 単行書11 621.315.|D|ｷ1198 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (17)

図書館

• 千現 (17)

コレクション

言語

• English (15)
• 日本語 (2)

出版日

• 2000 - 2009 (2)
• 1990 - 1999 (8)
• 1960 - 1969 (2)
• 1950 - 1959 (1)

予約可能

• はい (16)
• いいえ (1)

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