資料を検索する

検索語: 詳細検索

17 件の資料が 103860 件の資料から 0.049 秒で見つかりました。

次の項目で並べ替える: 新着図書優先 出版日優先 タイトル

1	Semiconductor material and device characterization Schroder, Dieter K. IEEE Press, Wiley-Interscience (2006) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602719 並木 単行書21 621.315.592|S| 在架（利用可能）
2	The 9th International Conference on Shallow-Level Centers in Semiconductors : proceedings of the Yamada Conference LIV, held in Awaji island, Hyogo, Japan, 24-27 September 2000 International Conference on Shallow-Level Centers in Semiconductors Elsevier Science (2001) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211080 並木 単行書21 621.315.592|S|ｷ 1598 在架（利用可能）
3	Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 pt. 3 International Conference on Defects in Semiconductors Davies, Gordon Nazaré, Maria Helena Trans Tech Publications (1997) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211069 並木 単行書21 621.315.592|D|ｷ 1587 在架（利用可能）
4	Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 pt. 2 International Conference on Defects in Semiconductors Davies, Gordon Nazaré, Maria Helena Trans Tech Publications (1997) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211068 並木 単行書21 621.315.592|D|ｷ 1586 在架（利用可能）
5	Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 pt. 1 International Conference on Defects in Semiconductors Davies, Gordon Nazaré, Maria Helena Trans Tech Publications (1997) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211067 並木 単行書21 621.315.592|D|ｷ 1585 在架（利用可能）
6	23rd International Conference on the Physics of Semiconductors Abstracts; ⅩⅩⅢICPS 1996 Berlin, Germany, Technische Univesitat Berlin July 21-26, 1996 UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219279 並木 単行書21 621.315.||ｷ1193 在架（利用可能）
7	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 4 International Conference on Defects in Semiconductors Suezawa, Masashi Katayama-Yoshida, Hiroshi edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219286 並木 単行書21 621.315.|D|ｷ1200 在架（利用可能）
8	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 3 International Conference on Defects in Semiconductors Suezawa, Masashi Katayama-Yoshida, Hiroshi edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219285 並木 単行書21 621.315.|D|ｷ1199 在架（利用可能）
9	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 1 International Conference on Defects in Semiconductors Suezawa, Masashi Katayama-Yoshida, Hiroshi edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219283 並木 単行書21 621.315.|D|ｷ1197 在架（利用可能）
10	Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 2 International Conference on Defects in Semiconductors Suezawa, Masashi Katayama-Yoshida, Hiroshi edited by;Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida Trans Tech Publications (1995) UDC: 621.315.592 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219284 並木 単行書21 621.315.|D|ｷ1198 在架（利用可能）

検索語:
詳細検索

合計: 17

検索結果のフィード

資料の形態

• 冊子体 (17)

図書館

• 並木 (13)
• 千現 (4)

コレクション

言語

• English (15)
• 日本語 (2)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1990 - 1999 (1)

予約可能

• はい (14)
• いいえ (3)

書き出し

• RDF/XML
• MODS
• XLSX
• TSV
• JSON