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走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと 
重川秀実, 吉村雅満, 河津璋責任編集
著者: 重川, 秀実 吉村, 雅満 Kawazu, Akira 出版者: 共立出版 (出版日: 2009-03)
| 代替タイトル: | Scanning probe microscopy |
| 雑誌・シリーズ情報: |
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冊子体
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| 言語: | 日本語 |
| ページ数と大きさ: | xxiv, 425p ; 22cm |
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| 識別子: |
ISBN: 9784320033818
NCID: BA89611620
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文献: 各章末 |
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