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タイトル
41
Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2
Alan W. Agar, Ronald H. Alderson, Dawn Chescoe
North−Holland
(1974)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205648
千現
単行書11
621.385.833|G|6497
在架(利用可能)
42
Procedures in Scanning Probe Microscopies
editors, Richard J. Colton, Andreas Engel, Jane E. Frommer, Hermann E. Gaub [et al.]
John Wiley & Sons
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217874
千現
単行書11
621.385.833|C|10675
在架(利用可能)
43
Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976
edited by Om Johari
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1976)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205652
千現
単行書11
621.385.|J|5851
在架(利用可能)
44
Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977
edited by Om Johari
edited by Om Johari
IIT Research Institute
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205654
千現
単行書11
621.385.|J|6184
在架(利用可能)
45
Scanning Electron Microscopy/ 1968 : Proceedings of the Symposium on The Scanning Electron Microscope -- The Instrument and Its Applications April 30-May1, 1968 Chicago, Illinois
edited by Om Johari
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1968)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205651
千現
単行書11
621.385.|J|3865
在架(利用可能)
46
High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques
editors, Peter R. Buseck, John M. Cowley, LeRoy Eyring
Oxford University Press
(1992)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217813
千現
単行書11
621.385.833|B|10644
在架(利用可能)
47
In Situ Experiments with High Voltage Electron Microscopes
eitor in chief, Hiroshi Fujita
Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University
(1985)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
204815
千現
単行書11
621.385.833|F|キ 184
在架(利用可能)
48
Scanning Electron Microscopy : Aplications to Materials and Device Science
P.R. Thornton
Chapman and Hall
(1968)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
210682
千現
単行書11
621.385.|T|3539
在架(利用可能)
49
Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Proparationsmethoden
Ludwig Reimer
Springer-Verlag
(1959)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
201994
千現
単行書11
621.385.|R|1518
在架(利用可能)
50
Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science
Daid B. Williams
Philips Electronic Instruments
(1984)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215619
千現
単行書11
621.385.833|W|
在架(利用可能)
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コレクション
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English (56)
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出版日
2000 - 2009 (1)
1990 - 1999 (20)
1980 - 1989 (14)
1970 - 1979 (10)
1960 - 1969 (5)
1950 - 1959 (1)
予約可能
はい (55)
いいえ (1)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON