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Defect control in semiconductors : proceedings of the International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors, the Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, September 17-22 1989 v. 2

International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors 角野, 浩二 North-Holland Distributors for the U.S. and Canada, Elsevier Science Pub. (1990)

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600119	並木	単行書22	621.315\|S\|2	在架（利用可能）

International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors 角野, 浩二 International Conference on the Science and Technology of Defect Control in Semiconductors North-Holland Distributors for the U.S. and Canada, Elsevier Science Pub. (1990) UDC: 621.315

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
600118	並木	単行書22	621.315\|S\|1	在架（利用可能）

Transactions of the Materials Research Society of Japan

Materials Research Society of Japan

ISSN: 13823469
所蔵情報: 【並木】＜年次:1992-2021＞Vol.2-13,20,24-28,29(1),30-33,35(1),36(3-4),37-45,46(1)

https://www.jstage.jst.go.jp/browse/tmrsj/-char/ja

ICCG-13, ICVGE-11 : Proceedings of the thirteenth International Conference on Crystal Growth in Conjunction with the eleventh International Conference on Vapor Growth and Epitaxy, Kyoto, Japan, 30 July - 4 August 2001 pt. 3

International Conference on Crystal Growth International Conference on Vapor Growth and Epitaxy Hibiya, T Elsevier Science (2002) UDC: 548