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51	走査電子顕微鏡の基礎と応用 日本電子顕微鏡学会関東支部 日本電子顕微鏡学会関東支部 共立出版 (1983) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216683 千現 単行書11 621.385.833|N|9652 在架（利用可能） 208260 千現 単行書11 621.385.833|N|7921 在架（利用可能）
52	Electron Microscopy : Principles and Fundamentals edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt [et al.] edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt [et al.] VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217574 千現 単行書11 621.385.833|Ａ|10456 在架（利用可能）
53	結晶電子顕微鏡学 : 材料研究者のための 坂, 公恭 内田老鶴圃 (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601853 並木 単行書16 621.385.833|Ｓ| 在架（利用可能） 217586 千現 単行書11 621.385.833|Ｓ|10468 在架（利用可能）
54	In Situ Experiments with High Voltage Electron Microscopes eitor in chief, Hiroshi Fujita Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University (1985) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204815 千現 単行書11 621.385.833|F|ｷ 184 在架（利用可能）
55	電子顕微鏡 基礎技術と応用1997 : ナノ世界への道 第8回 電顕サマースクール実行委員会 第8回 電顕サマースクール実行委員会 学際企画 (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217647 千現 単行書11 621.385.833|D|10518 在架（利用可能）
56	Procedures in Scanning Probe Microscopies editors, Richard J. Colton, Andreas Engel, Jane E. Frommer, Hermann E. Gaub [et al.] John Wiley & Sons UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217874 千現 単行書11 621.385.833|C|10675 在架（利用可能）
57	Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 千現 単行書11 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
58	Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205654 千現 単行書11 621.385.|J|6184 在架（利用可能）
59	Scanning Electron Microscopy/ 1968 : Proceedings of the Symposium on The Scanning Electron Microscope -- The Instrument and Its Applications April 30-May1, 1968 Chicago, Illinois edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205651 千現 単行書11 621.385.|J|3865 在架（利用可能）
60	High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques editors, Peter R. Buseck, John M. Cowley, LeRoy Eyring Oxford University Press (1992) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217813 千現 単行書11 621.385.833|B|10644 在架（利用可能）

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図書館

• 千現 (64)
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コレクション

言語

• English (56)
• 日本語 (17)

出版日

• 2010 - 2019 (1)
• 2000 - 2009 (3)
• 1990 - 1999 (28)
• 1980 - 1989 (16)
• 1970 - 1979 (11)
• 1960 - 1969 (5)
• 1950 - 1959 (2)
• 1940 - 1949 (1)

予約可能

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• いいえ (2)

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