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タイトル
21
トランジスタ論理回路
米国半導体電子工学教育委員会
産業図書
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527866
並木
単行書16
621.38||01883
在架(利用可能)
22
多段トランジスタ回路
米国半導体電子工学教育委員会
産業図書
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527862
並木
単行書16
621.38||01882
在架(利用可能)
23
トランジスタの特性と性能限界
米国半導体電子工学教育委員会
産業図書
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527860
並木
単行書16
621.38||01881
在架(利用可能)
24
トランジスタの物理と回路モデル
米国半導体電子工学教育委員会
産業図書
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527857
並木
単行書16
621.38||01878
在架(利用可能)
25
半導体の物理
米国半導体電子工学教育委員会
産業図書
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527859
並木
単行書16
621.38||01879
在架(利用可能)
26
基礎トランジスタ回路
米国半導体電子工学教育委員会
産業図書
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527858
並木
単行書16
621.38||01880
在架(利用可能)
27
Transmission Electron Microscopy of Metals.
Thomas.G.'
John Wiley & Son.
(1962)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527167
並木
単行書16
621.38||01031
在架(利用可能)
28
電子線マイクロアナリシス −走査電子顕微鏡、X線マイクロアナライザ分析法−
副島 啓義
日刊工業新聞社
(1987)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527892
並木
単行書16
621.38||04772
在架(利用可能)
29
IC Master 1979
United Technical Pub.
(1979)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
523251
並木
参考図書2
621.38||03889
在架(利用可能)
30
Electron Microfractography.
American Society for Testing & Materials.
American Society for Testing & Materials.
(1970)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527853
並木
単行書16
621.38||02367
在架(利用可能)
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資料の形態
冊子体 (38)
図書館
並木 (38)
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コレクション
言語
日本語 (21)
English (17)
出版日
2020 - 2029 (1)
2000 - 2009 (13)
1990 - 1999 (7)
1980 - 1989 (5)
1970 - 1979 (4)
1960 - 1969 (7)
予約可能
はい (38)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON