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The Scanning Electron Microscope
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Vacuum Microelectronics
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高分解能電子顕微鏡 : 原理と利用法
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材料開発のための顕微鏡法と応用写真集
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新・走査電子顕微鏡
共立出版
(2011-06)
UDC: 621.385
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走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと 6
共立出版
(2009-03)
UDC: 621.385
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17 |
走査プローブ顕微鏡と局所分光 : 実戦ナノテクノロジー
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18 |
超短波真空管
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19 |
電子線ナノイメージング : 高分解能TEMとSTEMによる可視化
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ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡
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