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1 半導体および絶縁体へのイオン注入技術 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
534150 並木 単行書10 画像 543.5|O|H20.35 在架（利用可能）
600008 千現 単行書1 画像 NIMS|O| 在架（利用可能）
2 オージェ電子分光法 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600923 千現 単行書7 画像 543.5|N| 在架（利用可能）
601031 並木 単行書10 画像 543.5|N| 在架（利用可能）
3 X線光電子分光法 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600924 千現 単行書7 画像 543.5|N| 在架（利用可能）
601032 並木 単行書10 画像 543.5|N| 在架（利用可能）
4 固体表面分析 ２ 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216556 千現 単行書7 画像 543.5|O|ｷ 696 在架（利用可能）
5 固体表面分析 １ 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216555 千現 単行書7 画像 543.5|O|ｷ 695 在架（利用可能）
6 ユーザーのための実用オージェ電子分光法 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
212590 千現 単行書7 画像 543.5|S|9257 在架（利用可能）
7 Mass Spectrometry Adrances 1982 Part A and B 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
208295 千現 単行書7 画像 543.5|Ｓ| 在架（利用可能）
8 Mass Spectrometry Adrances 1982 Part C and D 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
208297 千現 単行書7 画像 543.5|Ｓ| 在架（利用可能）
9 Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS Ⅱ : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS Ⅱ), Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979 Vol.9 9 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215763 千現 単行書7 画像 543.5|B|T-475 在架（利用可能）
10 Momentum, Heat and Mass Transfer to A Moving Continuous Cylinder 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202316 千現 単行書7 画像 543.5|R|3933 在架（利用可能）

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