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11 The operation and calibration of the electron microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600499 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|1 在架（利用可能）
12 Electron microscopy of interfaces in metals and alloys 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600498 千現 単行書11 画像 621.385.833|H| 在架（利用可能）
13 電子顕微鏡研究者のための FIB・イオンミリング技法Q&A：ナノテクノロジーの推進役 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211003 千現 単行書11 画像 621.385.833|H|12455 在架（利用可能）
14 Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis -2nd ed.- Vol.45 Vol.45 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219240 千現 単行書11 画像 621.385.833|R|11733 在架（利用可能）
15 Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy Science 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219114 千現 単行書11 画像 621.385.|J|11641 在架（利用可能）
16 Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218843 千現 単行書11 画像 621.385.833|F|11478 在架（利用可能）
17 Oxford Series in Optical and Imaging Sciences 4 (Introduction to Scanning Tunneling Microscopy) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527878 並木 単行書16 画像 621.385.||05106 在架（利用可能）
18 Springer Series in Optical Sciences Volume 45 (Scanning Electron Microscopy) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527891 並木 単行書16 画像 621.385.||05395 在架（利用可能）
19 Advanced Light Microscopy. Vol.1 (Vol.1:- Principles and Basic Properties.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527882 並木 単行書16 画像 621.385.||04794 在架（利用可能）
20 Advanced Light Microscopy. Vol.2 (Vol.2:- Specialized Methods.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527883 並木 単行書16 画像 621.385.||04795 在架（利用可能）

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