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11 The operation and calibration of the electron microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600499 並木 単行書22 画像 621.385.833|M|1 在架（利用可能）
12 Electron microscopy of interfaces in metals and alloys 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600498 並木 単行書22 画像 621.385.833|H| 在架（利用可能）
13 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211003 並木 単行書22 画像 621.385.833|H|12455 在架（利用可能）
14 Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis : hardcover 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219240 並木 単行書22 画像 621.385.833|R|11733 在架（利用可能）
15 Characterisation of radiation damage by transmission electron microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219114 並木 単行書22 画像 621.385.|J|11641 在架（利用可能）
16 Transmission electron microscopy and diffractometry of materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218843 並木 単行書22 画像 621.385.833|F|11478 在架（利用可能）
17 Introduction to scanning tunneling microscopy 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527878 並木 単行書22 画像 621.385.||05106 在架（利用可能）
18 Springer Series in Optical Sciences Volume 45 (Scanning Electron Microscopy) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527891 並木 単行書22 画像 621.385.||05395 在架（利用可能）
19 Principles and basic properties 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527882 並木 単行書22 画像 621.385.||04794 在架（利用可能）
20 Specialized methods 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527883 並木 単行書22 画像 621.385.||04795 在架（利用可能）

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