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2151 Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 pt. 3 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211069 並木 単行書22 画像 621.315.592|D|ｷ 1587 在架（利用可能）
2152 Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 pt. 2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211068 並木 単行書22 画像 621.315.592|D|ｷ 1586 在架（利用可能）
2153 Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997 pt. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211067 並木 単行書22 画像 621.315.592|D|ｷ 1585 在架（利用可能）
2154 Innovative nuclear energy systems for sustainable development of the world : proceedings of the second COE-INES International Symposium, INES-2, November 26-30, 2006, Yokohama, Japan 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
534105 並木 単行書21 画像 621|Y|寄贈 在架（利用可能）
2155 最新分子マシン : ナノで働く"高度な機械"を目指して 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
534104 並木 単行書12 画像 54|K|消耗品 在架（利用可能）
2156 ひと目でわかるMicrosoft Visual C++.NET Version 2003アプリケーション開発入門 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211051 並木 単行書28 画像 681.3|N|ｷ 1574 在架（利用可能）
2157 プログラミングMicrosoft Visual C++.NET 2: 活用編 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211050 並木 単行書28 画像 681.3|S|ｷ 1573 在架（利用可能）
2158 ISO規格等に基づく計測の基礎 : SI単位と不確かさ 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211087 並木 単行書27 画像 621.2|S|12474 在架（利用可能）
2159 ICPP 96 : contributed papers : proceedings of the 1996 International Conference on Plasma Physics, 9-13 September 1996, Nagoya, Japan v. 2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211065 並木 単行書7 画像 533.9|S|ｷ1583 在架（利用可能）
2160 ICPP 96 : contributed papers : proceedings of the 1996 International Conference on Plasma Physics, 9-13 September 1996, Nagoya, Japan v. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211064 並木 単行書7 画像 533.9|S|ｷ1582 在架（利用可能）

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