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タイトル
51
Scanning electron microscopy/1976 Vol. 1
Johari, Om
IIT Research Institute
Becker, Robert P.
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1976)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205652
並木
単行書22
621.385.|J|5851
在架(利用可能)
52
Scanning electron microscopy/1977/I : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and workshops on materials and component characterization/quality control with the SEM/STEM, SEM applications to semiconductors, analytical electron microscopy, biological specimen preparation for SEM, March 28 - April 1, 1977 : Sessions held at McCormick INN, Chicago, Illinois Vol. 1
Scanning Electron Microscope Symposium
Johari, Om
IIT Research Institute
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1977)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205654
並木
単行書22
621.385.|J|6184
在架(利用可能)
53
Scanning electron microscopy 1968 : proceedings of the Symposium on the Scanning Electron Microscope -- the instrument and its applications, held at IIT Research Institute, Chicago, Illnois, USA, April 30-May 1, 1968
Scanning Electron Microscope Symposium
IIT Research Institute
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1968)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205651
並木
単行書22
621.385.|J|3865
在架(利用可能)
54
Procedures in scanning probe microscopies
Colton, R. J.
Wiley
(1998)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217874
並木
単行書22
621.385.833|C|10675
在架(利用可能)
55
Principles and practice of electron microscope operation : ne
Agar, Alan W.
Alderson, Ronald H.
Chescoe, Dawn
North-Holland
Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier
(1974)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205648
並木
単行書22
621.385.833|G|6497
在架(利用可能)
56
電子顕微鏡でわかったこと : 細胞の微細構造から原子の姿まで
永野, 俊雄
牛木, 辰男
堀内, 繁雄
講談社
(1994-07)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527887
並木
単行書22
621.385.833|N|
在架(利用可能)
57
Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis : gw
Reimer, Ludwig
Springer-Verlag
(1993)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
213207
並木
単行書22
621.385.833|R|9489
在架(利用可能)
58
Practical analytical electron microscopy in materials science : pbk
Williams, David B. (David Bernard)
Verlag Chemie International
Electron Optics Pub. Co.
(1984)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215619
並木
単行書22
621.385.833|W|
在架(利用可能)
59
Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis
Siegel, Benjamin M.
Electron Microscopy Society of America
Beaman, Donald Robert
edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman
Wiley
(1975)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205664
並木
単行書22
621.385.833|S|5820
在架(利用可能)
60
Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, the University of Cambridge, 29-31 March 1993
International Conference on the Microscopy of Oxidation
Newcomb, S. B.
Bennett, M. J. (Michael John)
Institute of Materials
(1993)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217746
並木
単行書22
621.385.833|N|キ803
在架(利用可能)
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資料の形態
冊子体 (61)
図書館
並木 (57)
千現 (12)
コレクション
言語
English (41)
日本語 (19)
German (1)
出版日
2010 - 2019 (1)
1990 - 1999 (4)
1980 - 1989 (2)
1960 - 1969 (1)
1950 - 1959 (1)
予約可能
はい (56)
いいえ (5)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON