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51	Scanning electron microscopy/1976 Vol. 1 Johari, Om IIT Research Institute Becker, Robert P. edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 並木 単行書22 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
52	Scanning electron microscopy/1977/I : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and workshops on materials and component characterization/quality control with the SEM/STEM, SEM applications to semiconductors, analytical electron microscopy, biological specimen preparation for SEM, March 28 - April 1, 1977 : Sessions held at McCormick INN, Chicago, Illinois Vol. 1 Scanning Electron Microscope Symposium Johari, Om IIT Research Institute edited by Om Johari IIT Research Institute (1977) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205654 並木 単行書22 621.385.|J|6184 在架（利用可能）
53	Scanning electron microscopy 1968 : proceedings of the Symposium on the Scanning Electron Microscope -- the instrument and its applications, held at IIT Research Institute, Chicago, Illnois, USA, April 30-May 1, 1968 Scanning Electron Microscope Symposium IIT Research Institute edited by Om Johari IIT Research Institute (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205651 並木 単行書22 621.385.|J|3865 在架（利用可能）
54	Procedures in scanning probe microscopies Colton, R. J. Wiley (1998) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217874 並木 単行書22 621.385.833|C|10675 在架（利用可能）
55	Principles and practice of electron microscope operation : ne Agar, Alan W. Alderson, Ronald H. Chescoe, Dawn North-Holland Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier (1974) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205648 並木 単行書22 621.385.833|G|6497 在架（利用可能）
56	電子顕微鏡でわかったこと : 細胞の微細構造から原子の姿まで 永野, 俊雄 牛木, 辰男 堀内, 繁雄 講談社 (1994-07) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527887 並木 単行書22 621.385.833|N| 在架（利用可能）
57	Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis : gw Reimer, Ludwig Springer-Verlag (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 213207 並木 単行書22 621.385.833|R|9489 在架（利用可能）
58	Practical analytical electron microscopy in materials science : pbk Williams, David B. (David Bernard) Verlag Chemie International Electron Optics Pub. Co. (1984) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215619 並木 単行書22 621.385.833|W| 在架（利用可能）
59	Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis Siegel, Benjamin M. Electron Microscopy Society of America Beaman, Donald Robert edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman Wiley (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205664 並木 単行書22 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）
60	Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, the University of Cambridge, 29-31 March 1993 International Conference on the Microscopy of Oxidation Newcomb, S. B. Bennett, M. J. (Michael John) Institute of Materials (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217746 並木 単行書22 621.385.833|N|ｷ803 在架（利用可能）

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図書館

• 並木 (57)
• 千現 (12)

コレクション

言語

• English (41)
• 日本語 (19)
• German (1)

出版日

• 2010 - 2019 (1)
• 1990 - 1999 (4)
• 1980 - 1989 (2)
• 1960 - 1969 (1)
• 1950 - 1959 (1)

予約可能

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• いいえ (5)

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