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1 Electron microscope specimen preparation techniques in materials science 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600501 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|5 在架(利用可能)
2 Electron diffraction in the electron microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600500 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|2 貸出中
( 返却期限:
2019年09月19日 )
3 The operation and calibration of the electron microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600499 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|1 在架(利用可能)
4 Practical Scanning Electron Microscopy. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527900 並木 単行書15 画像 621.385.||03410 貸出中
( 返却期限:
2019年10月04日 )
5 The Chemical Applications of Transmission Electron Microscopy. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527901 並木 単行書15 画像 621.385.||04167 在架(利用可能)
6 Developments in Electron Microscopy and Analysis. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205663 千現 単行書11 画像 621.385.833|V|5861 在架(利用可能)
7 走査電子顕微鏡:基礎と応用 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215628 千現 単行書11 画像 621.385.833|N|T-66 在架(利用可能)
8 Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205648 千現 単行書11 画像 621.385.833|G|6497 在架(利用可能)
9 Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205652 千現 単行書11 画像 621.385.|J|5851 在架(利用可能)
10 Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205664 千現 単行書11 画像 621.385.833|S|5820 在架(利用可能)

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