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1 Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205652 千現 単行書11 画像 621.385.|J|5851 在架(利用可能)
2 Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205654 千現 単行書11 画像 621.385.|J|6184 在架(利用可能)
3 Scanning Electron Microscopy/ 1968 : Proceedings of the Symposium on The Scanning Electron Microscope -- The Instrument and Its Applications April 30-May1, 1968 Chicago, Illinois 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205651 千現 単行書11 画像 621.385.|J|3865 在架(利用可能)