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1	Performance and reliability of semiconductor devices : symposium held November 30-December 3, 2008, Boston, Massachusetts, U.S.A. Mastro, Michael Materials Research Society. Meeting Materials Research Society UDC: MRS 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 211157 千現 プロシーディングス26 MRS|P|12541 在架（利用可能）

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