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1	Ion beam handbook for material analysis Mayer, James W. Rimini, E. Academic Press UDC: 539 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601977 並木 参考図書1 539|M| 在架（利用可能） 貸出不可
2	Ion-solid interactions : fundamentals and applications Nastasi, Michael Anthony Hirvonen, J.K. (James Karsten) Mayer, James W. Cambridge University Press 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601251 並木 単行書6 537.5|N|寄贈 在架（利用可能）
3	Ion-solid interactions : fundamentals and applications Nastasi, Michael Anthony Hirvonen, J.K. (James Karsten) Mayer, James W. Cambridge University Press UDC: 537.5 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219688 千現 単行書4 537.5|N|12064 在架（利用可能）
4	Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography Feldman, Leonard C. Mayer, James W. Picraux, S. T. Academic Press UDC: 537.5 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219321 千現 単行書4 537.5|F|11779 在架（利用可能）
5	Backscattering spectrometry Chu, Wei-Kan Mayer, James W. Nicolet, Marc-A. Academic Press UDC: 537.534 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524768 並木 単行書6 537.534||05226 在架（利用可能）
6	Materials analysis by ion channeling : submicron crystallography Feldman, Leonard C. Mayer, James W. Picraux, S. T. Academic Press UDC: 537.5 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524757 並木 単行書6 537.5||04556 在架（利用可能）
7	Ion implantation in semiconductors : silicon and germanium Mayer, James W. Eriksson, Lennart Davies, John Arthur Academic Press UDC: 539.2 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 526339 並木 単行書8 539.2||02759 在架（利用可能）
8	Backscattering spectrometry Chu, Wei-Kan Mayer, James W. Nicolet, Marc-A. Academic Press 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216028 千現 単行書5 539.1.07|C|T-1252 在架（利用可能）

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