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1	Interpretation of transmission electron micrographs Edington, Jeffrey William MacMillan 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600503 千現 単行書11 621.385.833|M|3 在架（利用可能）
2	Typical electron microscope investigations Edington, Jeffrey William MacMillan 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600502 千現 単行書11 621.385.833|M|4 在架（利用可能）
3	Electron microscope specimen preparation techniques in materials science Thompson-Russell, K. C. Edington, Jeffrey William MacMillan UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600501 千現 単行書11 621.385.833|M|5 在架（利用可能）
4	Electron diffraction in the electron microscope Edington, Jeffrey William MacMillan UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600500 千現 単行書11 621.385.833|M|2 在架（利用可能）
5	The operation and calibration of the electron microscope Edington, Jeffrey William MacMillan UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600499 千現 単行書11 621.385.833|M|1 在架（利用可能）
6	The surface properties of oxidized silicon Kooi, Else Philips Technical Library UDC: 549 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 526104 並木 単行書14 549|| 在架（利用可能）
7	Entropy The significate of the concept of entropy and its applications in science and technology Second Edition Fast.J.D. Philips Technical Library. UDC: 536.7 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524664 並木 単行書6 536.7|F|01233 在架（利用可能）
8	Δ versus θ and 2θ for copper Κ radiation Parrish, William Mack, Marian Philips Technical Library UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209060 千現 単行書7 543|Ｐ| 在架（利用可能）
9	Engineering metallurgy Lips, Eduard Maria Henricus Stabler, G. V. N.V. Philips UDC: 669.017 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 206254 千現 単行書14 669.017|L|462 在架（利用可能）
10	Radioisotopes and their industrial applications Piraux, Henry Philips Technical Library UDC: 621.039 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204497 千現 単行書11 621.039.8|Ｐ|2859 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (19)

図書館

• 千現 (17)
• 並木 (2)

コレクション

言語

• English (19)

出版日

• 1960 - 1969 (1)

予約可能

• はい (18)
• いいえ (1)

書き出し

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