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1	Correction Factor Tables for Four-Point Probe Resistivity Measurements on Thin, Circular Semiconductor Samples Swartzendruber National Bureau of Standards (1964) UDC: 669 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 206354 千現 単行書13 669|Ｃｏ| 在架（利用可能） 貸出不可

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資料の形態

• 冊子体 (1)

図書館

• 千現 (1)

コレクション

言語

• English (1)

出版日

• 1960 - 1969 (1)

予約可能

• いいえ (1)

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