[M] Correction Factor Tables for Four-Point Probe Resistivity Measurements on Thin, Circular Semiconductor Samples

著者: Swartzendruber 出版者: National Bureau of Standards (出版日: 1964-01-01)

• 書誌詳細

形態:	冊子体
言語:	English
ページ数と大きさ:	21p; 28cm
件名:
分類:	UDC: 669
タグ:
識別子:
アブストラクト:
注記:

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
206354	並木	単行書25	669|Ｃｏ|	在架（利用可能） 貸出不可