[M] Correction Factor Tables for Four-Point Probe Resistivity Measurements on Thin, Circular Semiconductor Samples

著者: Swartzendruber 出版者: National Bureau of Standards (出版日: 1964-01-01)

資料: Correction Factor Tables for Four-Point Probe Resistivity Measurements on Thin, Circular Semiconductor Samples

本棚: 単行書25 (並木)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架（利用可能）

請求記号: 669|Ｃｏ|

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所蔵情報ID: 206354

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受入日: 1970年12月12日

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作成時刻: 2010/12/15 23:08:40

更新時刻: 2025/12/15 09:48:27