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[M] Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 冊子体

著者: 出版者: Scitec Publications Ltd (出版日: 2001)

版:
巻号: 巻: Vols.78-79
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 441p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9783908450610 ISSN: 10120394
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218799 千現 単行書9 画像 548.526|D|11471 在架(利用可能)