資料の表示
[M] シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques
著者: 上浦 洋一 出版者: リアライズ社
(出版日: 1997)
形態: | 冊子体 |
言語: | 日本語 |
ページ数と大きさ: | 192p; 30cm |
件名: | |
分類: | |
タグ: |
|
識別子: | ISBN: 9784947655974 |
アブストラクト: | |
注記: |
---|