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[M] シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques 冊子体

著者: 出版者: リアライズ社 (出版日: 1997)

形態: 冊子体 冊子体
言語: 日本語
ページ数と大きさ: 192p; 30cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9784947655974
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529620 並木 単行書15 画像 621.382|U|05573 在架(利用可能)