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タイトル
1
Electron microscope specimen preparation techniques in materials science
K. C. Thompson-Russell and J. W. Edington
Macmillan
(1977)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600501
千現
単行書11
621.385.833|M|5
在架(利用可能)
2
Electron diffraction in the electron microscope
J. W. Edington
(1975)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600500
千現
単行書11
621.385.833|M|2
在架(利用可能)
3
The operation and calibration of the electron microscope
J.W. Edington
Macmillan
(1974)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
600499
千現
単行書11
621.385.833|M|1
在架(利用可能)
4
Practical Scanning Electron Microscopy.
Goldstein.J.I. Yakowitz.H.'
Plenum Press
(1975)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527900
並木
単行書16
621.385.||03410
在架(利用可能)
5
The Chemical Applications of Transmission Electron Microscopy.
Fryer.J.R.'
Academic Press
(1979)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527901
並木
単行書16
621.385.||04167
在架(利用可能)
6
Developments in Electron Microscopy and Analysis.
edited and introduced by J.A. Venables
Academic Press
(1976)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205663
千現
単行書11
621.385.833|V|5861
在架(利用可能)
7
Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2
Alan W. Agar, Ronald H. Alderson, Dawn Chescoe
North−Holland
(1974)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205648
千現
単行書11
621.385.833|G|6497
在架(利用可能)
8
Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976
edited by Om Johari
edited by Om Johari
IIT Research Institute
(1976)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205652
千現
単行書11
621.385.|J|5851
在架(利用可能)
9
Practical Methods in Electron Microscopy/ Specimen Preparation in Materials Science [Part 1]/ Electron Diffraction and Optical Diffraction Techniques [Part 2] Vol.1 Part 1.2 Vol.1
P.J. Goodhew [Part 1]/ B.E.P. Beeston, Robert W. Horne and Roy Markham[Part 2]
North-Holland
(1972)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205647
千現
単行書11
621.385.833|G|6496
在架(利用可能)
10
Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society
edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman
edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman
John Wiley & Sons
(1975)
UDC: 621.385.833
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205664
千現
単行書11
621.385.833|S|5820
在架(利用可能)
検索語
:
詳細検索
合計: 10
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (10)
図書館
千現 (8)
並木 (2)
コレクション
言語
English (10)
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出版日
1970 - 1979 (10)
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予約可能
はい (10)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON