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51	Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Proparationsmethoden Ludwig Reimer Springer-Verlag (1959) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201994 千現 単行書11 621.385.|R|1518 在架（利用可能）
52	ミクロの世界・物質編：目で観る物性論 日本電子顕微鏡学会 日本電子顕微鏡学会 学際企画 (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217649 千現 単行書11 621.385.833|N|10520 在架（利用可能）
53	Procedures in Scanning Probe Microscopies editors, Richard J. Colton, Andreas Engel, Jane E. Frommer, Hermann E. Gaub [et al.] John Wiley & Sons UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217874 千現 単行書11 621.385.833|C|10675 在架（利用可能）
54	Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 千現 単行書11 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
55	Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205654 千現 単行書11 621.385.|J|6184 在架（利用可能）
56	Scanning Electron Microscopy/ 1968 : Proceedings of the Symposium on The Scanning Electron Microscope -- The Instrument and Its Applications April 30-May1, 1968 Chicago, Illinois edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205651 千現 単行書11 621.385.|J|3865 在架（利用可能）
57	Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Dale E. Newbury, David C. Joy, Patrick Echlin [et al.] Plenum Press (1986) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217779 千現 単行書11 621.385.833|N|10615 在架（利用可能）
58	Microscopy of Oxidation 2 ; Proceedings of The Second International Conference on The Microscopy of Oxidation held At Selwyn College,The University of Cambridge 29-31 March 1993 552 edite by S.B. Newcomb, M.J. Bennett The Institute of Materials (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217746 千現 単行書11 621.385.833|N|ｷ803 在架（利用可能）
59	Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science Daid B. Williams Philips Electronic Instruments (1984) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215619 千現 単行書11 621.385.833|W| 在架（利用可能）
60	Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis -3rd ed.- Vol.36 Vol.36 Ludwig Reimer, Guest editor, Peter W. Hawkes Springer-Verlag (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 213207 千現 単行書11 621.385.833|R|9489 在架（利用可能）

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出版日

• 2010 - 2019 (1)
• 2000 - 2009 (3)
• 1990 - 1999 (25)
• 1980 - 1989 (12)
• 1970 - 1979 (9)
• 1960 - 1969 (5)
• 1950 - 1959 (2)
• 1940 - 1949 (1)

予約可能

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