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81 Key Engineering Materials Volumes 125-126 Electrical Properties of Oxide Materials V.125-126 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529810 並木 単行書16 画像 666.3|N|寄贈 在架（利用可能）
82 Abrasive Waterjet Machining of Engineering Materials 19 19 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219472 千現 単行書13 画像 669|M|11886 在架（利用可能）
83 Plastic Deformation and Strain Hardening 16-18 16-18 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219471 千現 単行書13 画像 669|M|11885 在架（利用可能）
84 Proceedings of the 18th International Conference Defects in Semiconductors Part 4; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 4 18 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219286 千現 単行書11 画像 621.315.|D|ｷ1200 在架（利用可能）
85 Proceedings of the 18th International conference Defects in Semiconductors Part 3; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 3 18 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219285 千現 単行書11 画像 621.315.|D|ｷ1199 在架（利用可能）
86 Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors Part 1; ICDS-18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part1 18 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219283 千現 単行書11 画像 621.315.|D|ｷ1197 在架（利用可能）
87 Proceedings of the 16th International Conference Defects in Semiconductors Part1; ICDS 16 Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania 22-26 July 1991 Part1 16 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219280 千現 単行書11 画像 621.315.|D|ｷ1194 在架（利用可能）
88 Nucleation and the Properties of Undercooled Melts 15 15 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219171 千現 単行書13 画像 669|M|11696 在架（利用可能）
89 Scanning Probe Microscopies : From Surface Structure to Nano-Scale Engineering 14 14 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219030 千現 単行書13 画像 669|M|11569 在架（利用可能）
90 Sol-Gel Preparation and Characterization of Metal-Silica and Metal Oxide-Silica Nanocomposites 13 13 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219029 千現 単行書13 画像 669|M|11568 在架（利用可能）

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