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タイトル
1
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 4
International Conference on Defects in Semiconductors
Suezawa, Masashi
Katayama-Yoshida, Hiroshi
edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
Trans Tech Publications
(1995)
UDC: 621.315.592
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219286
並木
単行書21
621.315.|D|キ1200
在架(利用可能)
2
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 3
International Conference on Defects in Semiconductors
Suezawa, Masashi
Katayama-Yoshida, Hiroshi
edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
Trans Tech Publications
(1995)
UDC: 621.315.592
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219285
並木
単行書21
621.315.|D|キ1199
在架(利用可能)
3
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 1
International Conference on Defects in Semiconductors
Suezawa, Masashi
Katayama-Yoshida, Hiroshi
edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
Trans Tech Publications
(1995)
UDC: 621.315.592
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219283
並木
単行書21
621.315.|D|キ1197
在架(利用可能)
4
Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 2
International Conference on Defects in Semiconductors
Suezawa, Masashi
Katayama-Yoshida, Hiroshi
edited by;Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
Trans Tech Publications
(1995)
UDC: 621.315.592
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219284
並木
単行書21
621.315.|D|キ1198
在架(利用可能)
合計: 4
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (4)
図書館
並木 (4)
コレクション
言語
English (4)
出版日
予約可能
はい (4)
書き出し
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MODS
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