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Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 3 
edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida
著者: International Conference on Defects in Semiconductors Suezawa, Masashi Katayama-Yoshida, Hiroshi 協力者・編者: edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 出版者: Trans Tech Publications (出版日: 1995)
| 代替タイトル: | Defects in semiconductors 18 |
| 雑誌・シリーズ情報: |
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| 版: | |
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| 巻号: | 巻: pt. 3 |
| 形態: |
冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | 1 v. ; 25 cm |
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| 分類: | |
| タグ: |
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| 識別子: |
ISBN: 9780878497140
NCID: BA27177886
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