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[M] Proceedings of the 18th International conference Defects in Semiconductors Part 3; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 3 18 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by; Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 出版者: Trans Tech Publications (出版日: 1995)

版:
巻号: 巻: 18
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 1109p; 25cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780878497140
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219285 千現 単行書11 画像 621.315.|D|キ1199 在架(利用可能)