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1 Proceedings of the 18th International Conference Defects in Semiconductors Part 4; ICDS 18 Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Part 4 18 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219286 千現 単行書11 画像 621.315.|D|ｷ1200 在架（利用可能）
2 Nuclear Engineering. Part 4 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205182 千現 単行書10 画像 621.039|Ｎｕ| 在架（利用可能）
3 Metallic Shifts in NMR : A Review of the Theory and Comprehensive Critical Data Compilation of Metallic Materials Part 4 Vol.20 Part 4 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
206335 千現 単行書13 画像 669|Ｃ|6065 在架（利用可能）
4 Standards Handbook : Wrought Copper and Copper Alloy Mill Products : Part 4 Engineering Data Part 4 Engineering Data 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204216 千現 参考図書25 画像 669.3|Ｓ|3704 在架（利用可能）
5 Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205652 千現 単行書11 画像 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）