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1	Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis : hardcover Reimer, Ludwig Springer (1998) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219240 並木 単行書22 621.385.833|R|11733 在架（利用可能）
2	Scanning electron microscopy : an international review of advances in biological techniques and applications of the scanning electron microscope 1979, pt 2 Becker, Robert P. Johari, Om Scanning Electron Microscopy (1979) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527875 並木 単行書22 621.385||04239 在架（利用可能）
3	Scanning Electron Microscopy. 1979/1 (An International Review of Advances in Techniques & Applications of the Scanning Electron Microscope.) Scanning Electron Microscopy.Inc.' (1979-01-01) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527876 並木 単行書22 621.385||04238 在架（利用可能）
4	Springer Series in Optical Sciences Volume 45 (Scanning Electron Microscopy) Reimer.L.' Springer (1998-01-01) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527891 並木 単行書22 621.385.||05395 在架（利用可能）
5	Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis Goldstein, Joseph Yakowitz, Harvey Plenum Press (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527900 並木 単行書22 621.385.||03410 在架（利用可能）
6	Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis Newbury, Dale E. Plenum Press (1986) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527868 並木 単行書22 621.385.||05379 在架（利用可能）
7	Scanning electron microscopy : applications to materials and device science Thornton, P. R. Chapman & Hall (1968) UDC: 621.38 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527907 並木 単行書22 621.38||00891 在架（利用可能）
8	Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists Goldstein, Joseph, Plenum Press (1992) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217474 並木 単行書22 621.385.833|G|10373 貸出中 ( 返却期限: 2026年02月13日 )
9	Scanning electron microscopy/1976 Vol. 1 Johari, Om IIT Research Institute Becker, Robert P. edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 並木 単行書22 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
10	Scanning electron microscopy/1977/I : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and workshops on materials and component characterization/quality control with the SEM/STEM, SEM applications to semiconductors, analytical electron microscopy, biological specimen preparation for SEM, March 28 - April 1, 1977 : Sessions held at McCormick INN, Chicago, Illinois Vol. 1 Scanning Electron Microscope Symposium Johari, Om IIT Research Institute edited by Om Johari IIT Research Institute (1977) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205654 並木 単行書22 621.385.|J|6184 在架（利用可能）

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図書館

• 並木 (11)

コレクション

言語

• English (11)

出版日

• 1990 - 1999 (1)
• 1970 - 1979 (1)

予約可能

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