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1 Applications of modern metallographic techniques 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
206299 千現 書庫12 画像 STP|A|4530 在架（利用可能）
貸出不可
2 Symposium on advances in electron metallography : presented at the sixty-first Annual Meeting, Boston, Mass., June 24, 1958, American Society for Testing and Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
206217 千現 書庫12 画像 STP|A|1337 在架（利用可能）
貸出不可
3 MiCon 78 : optimization of processing, properties, and service performance through microstructural control : a symposium 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205482 千現 書庫12 画像 STP|A|6994 在架（利用可能）
貸出不可
4 Practical applications of quantitative metallography : a symposium 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
203930 千現 書庫12 画像 STP|A|7587 在架（利用可能）
貸出不可
5 Metallography, a practical tool for correlating the structure and properties of materials : a symposium presented at the Seventy-Sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pa., 25-26 June 1973 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202650 千現 書庫12 画像 STP|A|5706 貸出中
( 返却期限:
2026年02月18日 )
6 Symposium on advances in techniques in electron metallography : held at New York, N.Y., June 26, 1962 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202055 千現 書庫12 画像 STP|A|928 在架（利用可能）
貸出不可
7 Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202036 千現 書庫12 画像 STP|A|1606 在架（利用可能）
貸出不可
8 Techniques of electron microscopy, diffraction, and microprobe analysis : presented at the sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N.J., June 26, 1963 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202064 千現 書庫12 画像 STP|A|1607 在架（利用可能）
貸出不可

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