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1 Metallography, a practical tool for correlating the structure and properties of materials : a symposium presented at the Seventy-Sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pa., 25-26 June 1973 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215323 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|T-132 在架（利用可能）
2 Techniques of electron microscopy, diffraction, and microprobe analysis : presented at the sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N.J., June 26, 1963 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
212750 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|ｷ483 在架（利用可能）
3 Metallography, a practical tool for correlating the structure and properties of materials : a symposium presented at the Seventy-Sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pa., 25-26 June 1973 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
212667 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|ｷ412 在架（利用可能）
4 Applications of modern metallographic techniques 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
206299 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|4530 在架（利用可能）
5 Symposium on advances in electron metallography : presented at the sixty-first Annual Meeting, Boston, Mass., June 24, 1958, American Society for Testing and Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
206217 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|1337 在架（利用可能）
6 MiCon 78 : optimization of processing, properties, and service performance through microstructural control : a symposium 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205482 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|6994 在架（利用可能）
7 Practical applications of quantitative metallography : a symposium 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
203930 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|7587 在架（利用可能）
8 Metallography, a practical tool for correlating the structure and properties of materials : a symposium presented at the Seventy-Sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pa., 25-26 June 1973 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202650 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|5706 在架（利用可能）
9 Symposium on advances in techniques in electron metallography : held at New York, N.Y., June 26, 1962 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202055 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|928 在架（利用可能）
10 Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202036 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|1606 在架（利用可能）

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