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1 Symposium on advances in electron metallography : presented at the sixty-first Annual Meeting, Boston, Mass., June 24, 1958, American Society for Testing and Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
206217 千現 書庫12 画像 STP|A|1337 在架（利用可能）
貸出不可
2 Symposium on advances in techniques in electron metallography : held at New York, N.Y., June 26, 1962 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202055 千現 書庫12 画像 STP|A|928 在架（利用可能）
貸出不可
3 Advances in electron metallography, vol. 6 : a symposium presented at the Sixty-eighth Annual Meeting, American Society for Testing and Materials, Lafayette, Ind., June 13-18, 1965 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202036 千現 書庫12 画像 STP|A|1606 在架（利用可能）
貸出不可
4 Techniques of electron microscopy, diffraction, and microprobe analysis : presented at the sixty-sixth annual meeting, American Society for Testing and Materials, Atlantic City, N.J., June 26, 1963 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202064 千現 書庫12 画像 STP|A|1607 在架（利用可能）
貸出不可