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1 Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors ： Proceedings of The 5th International Workshop (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August・September 1998 Vols.63-64 Vols.63-64 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217984 千現 単行書9 画像 548.526|Ｄ|10776 在架（利用可能）
2 Diffusion and Defect Data Pt．A Vol．111-112 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
213214 千現 単行書8 画像 548.526|Ｄ| 在架（利用可能）
3 Diffusion and Defect Data Pt．A Vol．113-114 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
213215 千現 単行書8 画像 548.526|Ｄ| 在架（利用可能）
4 Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST '95 : Proceedings of the 8th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, Hoor, Schweden, September 25-28, 1999 Vols. 69-70 Vols.69-70 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218112 千現 単行書9 画像 548.526|D|10863 在架（利用可能）
5 Polycrystalline Semiconductors 5 Bulk Materials, Thin Films and Devices Proceedings of the Fifth International Conference, held in Schwabisch Gmund, Germany, September 13-18,1998 Vols. 67-68 Vols.67-68 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218036 千現 単行書9 画像 548.526|D|10808 在架（利用可能）
6 Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces : Proceedings of the Fourth International Symposium on Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces (UCPSS'98), held in Ostend, Belgium, September 21-23,1998 Vols. 65-66 Vols.65-66 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218003 千現 単行書9 画像 548.526|D|10794 在架（利用可能）

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